EDS-Analysesoftware für REM
Discover EDS ist eine hochmoderne, vollständig integrierte EDS-Software zur energiedispersiven Röntgenanalyse, die speziell für das NANOS-Rasterelektronenmikroskop entwickelt wurde. Sie kombiniert nahtlos leistungsstarke Elementanalytik mit einer intuitiven Benutzeroberfläche und liefert schnelle und zuverlässige Ergebnisse direkt in Ihrer REM-Umgebung. Ob Sie mit Routineproben arbeiten oder komplexe Materialcharakterisierungen durchführen – Discover EDS vereinfacht Ihren Arbeitsablauf, ohne die Präzision zu beeinträchtigen.
Hauptmerkmale
Tisch-REM-Technologie, die fortschrittliche Mikroskopie für jedes Labor und jeden Forschenden zugänglich macht.
All-in-One
Bewahren Sie all Ihre Messungen und Bilder in einem einzigen Projekt übersichtlich auf – einschließlich REM-Aufnahmen, unbearbeiteter EDS-Spektren, Aufnahmeeinstellungen und Probenpositionen. Annotieren und analysieren Sie frühere Daten mühelos erneut, ohne die Originaldateien zu verändern.
Schnell & zuverlässig
Führen Sie schnelle und präzise Elementanalysen mit Echtzeit- und interaktiver Spektrumsvisualisierung durch. Identifizieren Sie Peaks und Artefakte zügig mithilfe leicht zugänglicher Referenzdaten und überlagerten simulierten Spektren.
Mühelose Berichterstellung
Exportieren Sie Elementkarten, Quantifizierungsergebnisse, Linienscans oder Ihr gesamtes Projekt mit einem einzigen Klick als formatierten PDF- oder DOCX-Bericht.
Live-Elementkartierung
Erhalten Sie sofortige Ergebnisse mit der Live-Elementkartierung. Die Visualisierungsqualität verbessert sich kontinuierlich, während der Scan mehr Spektren sammelt. Identifizieren Sie Merkmale schnell, während alle Rohspektren für eine detaillierte Analyse später gespeichert werden.
Erhalten Sie Antworten innerhalb von Sekunden.
Dank der engen Integration zwischen der Imaging- und der EDS-App können Sie die Zusammensetzung an jeder Position Ihres REM-Bildes sofort analysieren oder mithilfe der optischen Übersicht schnell navigieren.
Hohe Zählrate
Die Wolfram-Elektronenquelle liefert hohe Strahlströme und außergewöhnliche Röntgenzählraten – ideal für schnelle, rauscharme, hochauflösende Elementkarten.
Technische Spezifikationen
Detaillierte Spezifikationen, die die erweiterten Fähigkeiten von Discover EDS aufzeigen.
EDS-SPEZIFIKATIONEN |
Detektortyp |
Silizium-Drift-Detektor (SDD), thermoelektrisch gekühlt |
Aktive Detektorfläche |
30 mm2 |
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Energieauflösung |
@ Mn Kα < 132 eV |
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Maximale Eingangs-Zählrate |
300,000 cps |
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Max. resolution |
2048 x 2048 |
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Detectable element range |
B (5) to Am (95) |
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Hardware-Integration |
Vollständig integrierter SDD, Pulsmesser und Scangenerator |
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SOFTWARE |
Auf einem Windows-PC installiert und über die Benutzeroberfläche gesteuert |
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EDS-Punktanalyse, Linienanalyse und Mapping |
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Exportfunktionen |
Workflow Elementkartierung
Try it yourself!