NANOS — The next generation desktop scanning electron microscope

A compact, robust tabletop SEM delivering high-resolution imaging and elemental analysis, without the need for a cleanroom, dedicated infrastructure, or specialist support.

< 8 nm

Auflösung

EDS

Integriert

200.000x

Vergrößerung

Picture of Semplor NANOS scanning electron microscope (SEM) from side angle

Hochauflösende Bildgebung & EDS

SED, 4-Quadranten-BSD und integriertes EDS in einem einzigen Tisch-REM.

Kein Reinraum erforderlich

Standard-Laborinstallation. Keine spezielle Infrastruktur oder Schwingungsisolierung erforderlich.

Vom Benutzer wartbar

Electron source replaceable by the user in minutes. No service visit required.

Kompaktes, robustes und vielseitiges Tisch-REM

Das NANOS Tisch-REM wurde mit modernster Technologie entwickelt, um schnelle, hochwertige Bildgebung und Elementanalyse zu liefern. Sein kompaktes, modernes Design macht es ideal für Anwendungen in Forschung und Entwicklung, Ausbildung sowie Industrie.

Das NANOS bietet sofortigen Zugang zu REM-Funktionen – und eignet sich damit hervorragend für Labore, die ihre Abhängigkeit von externen REM-Dienstleistungen reduzieren oder Routinearbeiten von größeren Standgeräten entlasten möchten. Mit seiner kleinen Stellfläche, ausgezeichneter Systemstabilität und ohne Bedarf an spezieller Infrastruktur fügt sich das NANOS Tisch-REM nahtlos in jede Laborumgebung ein.

Picture of NANOS tabletop SEM and a PC with EDS map shown on it.

Produktmerkmale

Umfassende Funktionen für anspruchsvolle analytische Arbeitsabläufe

Hochleistungs-SE- & BSE-Detektoren

Das NANOS Tisch-REM ist mit einem Sekundärelektronendetektor (SED) für hochauflösende Oberflächentopografie-Bildgebung und einem hochwertigen 4-Quadranten-Rückstreuelektronendetektor (BSD) für Materialkontrast ausgestattet. Das Quadrantendesign des BSD ermöglicht fortschrittliche Bildgebungsmodi, einschließlich topografischer Schattierung, und liefert wertvolle Einblicke in Oberflächenrauheit und Materialeigenschaften. Die Mixed-Mode-Bildgebung ermöglicht es, SE- und BSE-Signale gleichzeitig zu überlagern oder nebeneinander darzustellen, um eine umfassende Probenanalyse zu ermöglichen.

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Integrierte EDS-Analyse

Das NANOS umfasst einen integrierten Silizium-Drift-Detektor (SDD) für energiedispersive Spektroskopie (EDS). Mit einer aktiven Fläche von 30 mm² und einer Energieauflösung von <132 eV bei Mn Kα unterstützt der Detektor Punktanalysen, Linienscans und vollständiges Element-Mapping — alles innerhalb derselben Benutzeroberfläche wie die REM-Bildgebung, ohne externe Hardware oder Software. <132 eV at Mn Kα, the detector supports point analysis, line scans and full element mapping — all within the same interface as SEM imaging, without external hardware or software.

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Niedervakuummodus

Das NANOS arbeitet sowohl im Hoch- als auch im Niedervakuummodus. Im Niedervakuummodus (40 Pascal) werden Aufladungseffekte bei nichtleitenden Proben reduziert oder eliminiert, sodass häufig keine Sputterbeschichtung erforderlich ist. Der Wechsel zwischen den Modi erfordert nur einen einzigen Klick in der Softwareoberfläche.

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Euzentrische Kippbühne

Das NANOS ist standardmäßig mit einer euzentrischen Kippbühne ausgestattet, sodass Proben beim Kippen im Fokus bleiben, ohne dass Anpassungen an den REM-Einstellungen erforderlich sind. Die motorisierte XY-Bewegung wird per Software gesteuert (25 × 25 mm Verfahrweg), während Kippwinkel bis zu 55° manuell mit Echtzeit-Feedback auf dem Bildschirm eingestellt werden.

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Vom Benutzer austauschbare Quelle

Der thermionische Wolframfaden liefert im ECO-Modus mehr als 1.000 Betriebsstunden. Wenn ein Austausch erforderlich ist, können Benutzer die Quelle selbst mit einem einfachen Ausrichtungswerkzeug wechseln — kein Servicebesuch, kein Spezialist erforderlich. Das minimiert Ausfallzeiten und reduziert die Betriebskosten im Vergleich zu Systemen, die externen Service erfordern.

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Discover Platform

Die Semplor Discover-Plattform bietet eine intuitive Einzelbildschirm-Oberfläche für REM-Bildgebung und EDS-Analyse, die nur minimale Schulung erfordert. Benutzer mit unterschiedlichem Erfahrungsniveau im Bereich REM können schnell hochwertige Ergebnisse erzielen. Das System wird vorkonfiguriert auf einem 27"-All-in-One-PC mit vorinstallierter Software geliefert.

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Optische Navigationskamera

Beim Einsetzen der Probe zeigt das NANOS ein optisches Vollfeld-Farbbild der Probenoberfläche an. Dies ermöglicht eine schnelle Identifikation interessanter Bereiche, bevor zur Elektronenbildgebung gewechselt wird — eine praktische Funktion für effiziente Arbeitsabläufe mit hohem Probendurchsatz.

1–20 kV Beschleunigungsspannung

Einstellbare Beschleunigungsspannungen von 1 bis 20 kV bieten Flexibilität für eine große Bandbreite an Probentypen und analytischen Anforderungen. Niedrigere Spannungen eignen sich für strahlempfindliche Proben; höhere Spannungen verbessern die EDS-Signalausbeute und die Effizienz des Mappings.

Clean vacuum chamber

The NANOS contains no moving mechanical parts inside the vacuum chamber — a unique design feature. This eliminates the risk of contamination and mechanical failure, reduces maintenance requirements, and ensures consistent imaging performance over time.

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Analysesoftware

Das NANOS ist mit zwei optionalen Softwaremodulen erhältlich, die vollständig in die Discover-Oberfläche integriert sind.

Discover EDS Software

Discover EDS

Erschließen Sie das volle analytische Potenzial des NANOS mit Semplors Discover-EDS-Software. Von Live-Element-Mapping bis hin zu präziser Peak-Identifikation und Quantifizierung optimiert Discover EDS jeden Schritt des analytischen Arbeitsablaufs.

  • Live-Spektrumanzeige
  • Sofortige Elementidentifikation und Quantifizierung
  • Erweitertes Map-Blending, Linienscan-Analyse
  • Berichterstellung mit einem Klick
Mehr über Discover EDS erfahren
Explore Apps Software

Explore Apps — Partikel, Fasern & 3D

Die Semplor Explore App verwandelt standardmäßige REM-Bildgebung in fortschrittliche Materialcharakterisierung. Drei optionale Module sind verfügbar:

Explore Particles

Automatische Erkennung, Segmentierung und Messung von Partikeln, Poren und Körnern, einschließlich sich berührender Partikel. Die Ausgaben umfassen Größenverteilungen, Formdeskriptoren und exportierbare statistische Berichte.

Explore Fibers

Messung von Durchmesser, Orientierung und Krümmung für die Faseranalyse. Entwickelt für Textilien, Vliesstoffe, elektrogesponnene Materialien und faserbasierte Proben.

Explore 3D

3D-Rekonstruktion und quantitative Höhenkarten aus REM-Bildern unter Verwendung von Stereobild-Rekonstruktion, 4-Quadranten-BSD-Topografie oder Einzelbild-Rendering.

Mehr über die Explore Apps erfahren

Anwendungen

Das NANOS Tisch-REM wird in einer Vielzahl von Forschungs-, Industrie- und Umweltanwendungen eingesetzt. Jede Anwendung kombiniert hochauflösende REM-Bildgebung mit Elementanalyse (EDS) und optionalen erweiterten Softwaremodulen.

Asbestos & Fiber Analysis

Asbest- & Faseranalyse

Faseridentifikation und elementare Charakterisierung zur Einhaltung regulatorischer Vorgaben

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Materials Characterization

Materialcharakterisierung

Oberflächenmorphologie, Materialkontrast, Elementverteilung in Metallen, Keramiken, Polymeren und Verbundwerkstoffen

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Particle Analysis

Partikelanalyse

Automatisierte Erkennung, Größenbestimmung und Klassifizierung von Partikeln, Poren und Einschlüssen

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Failure Analysis

Fehleranalyse

Untersuchung von Oberflächendefekten, Bruchanalyse und Identifikation von Kontaminationen

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Forensic Investigation

Forensische Untersuchung

Materialidentifikation, Spurenelementanalyse und Charakterisierung von Faserspuren

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Coating & Surface Analysis

Beschichtungs- & Oberflächenanalyse

Beschichtungsdicke, Haftung und elementare Zusammensetzung in Automobil-, Luftfahrt- und Industriebeschichtungen

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Mit NANOS aufgenommene Bilder

Entdecken Sie atemberaubende hochauflösende Bilder, die mit dem NANOS Tisch-REM aufgenommen wurden.

Technische Spezifikationen

BILDGEBUNGSMODUS
Optisch
2- und 12-fach optisch mit bis zu 60-fachem digitalem Zoom
REM
Vergrößerungsbereich: 100 – 200.000×
Auflösung
<8 nm
Aufnahmeresolution
Bis zu 4096 × 4096 Pixel (4K)
BELEUCHTUNG
Lichtoptisch
Hellfeld
Elektronenoptisch
Optimierte thermionische Quelle (Wolfram)
Lebensdauer: 1000+ Betriebsstunden im ECO-Modus
Beschleunigungsspannungen
Standard: 1, 2, 5, 7, 10, 15 und 20 kV
DETEKTOR
Sekundärelektronendetektor (SED)
Rückstreuelektronendetektor (BSD) – 4-Quadranten
Energiedispersive Spektroskopie-Detektor (EDS) – integriert
LICHTOPTISCHE NAVIGATIONSKAMERA
Farbe
BILDFORMATE
JPEG, TIFF, PNG, BMP
BENUTZEROBERFLÄCHE
Kommunikation, Bildgebung und Analyse erfolgen über einen einzelnen Monitor, gesteuert mit einer kabellosen Maus und Tastatur.
Fernsteuerung und Diagnose aktiviert
DATENSPEICHERUNG
Netzwerk, USB, Workstation
PROBENBÜHNE
Eucentric tilt stage (+15° up to -40° ) manual
Computer-controlled motorized X, Y: 25 x 25 mm
SAMPLE SIZE
Bis zu 45 mm Durchmesser (max. +15° bis -15° Neigung)
Bis zu 19 mm Höhe (optional 40 mm)
EDS-SPEZIFIKATIONEN
Detektortyp
Silizium-Drift-Detektor (SDD), thermoelektrisch gekühlt
Aktive Detektorfläche
30 mm2
Energieauflösung
@ Mn Kα < 132 eV
Maximale Eingangs-Zählrate
300,000 cps
Hardware-Integration
Vollständig integrierter SDD, Pulsmesser und Scangenerator
SOFTWARE
Auf einem Windows-PC installiert und über die Benutzeroberfläche gesteuert
EDS-Punktanalyse, Linienanalyse und Mapping
Exportfunktionen
SYSTEMSPEZIFIKATIONEN
Stellfläche
280 (B) × 470 (T) × 550 (H) mm
Gewicht
62 kg
Pumpen
Pfeiffer-Turbomolekularpumpe und eine ölfreie Membran-Vorvakuumpumpe
Vakuummodi
Hochvakuum-REM-Modus (Standard) Niedrigvakuum-Modus (Standard): Vakuum von 40 Pascal zur Reduzierung von Aufladung
Motorisch gesteuerte Vakuumstufen über die Benutzeroberfläche
Workstation
Vorkonfigurierter All-in-One-PC mit einem 27"-Monitor. SEM-Bildgebungs- und EDS-Analysesoftware installiert.
UMGEBUNGSBEDINGUNGEN
Temperatur
15°C - 25°C (59°F - 77°F)
Luftfeuchtigkeit
20 - 80% RH
Stromversorgung
System typischerweise im Bildgebungsmodus: 110 W (max. 140 W)

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