Technologie
Das NANOS ist ein umfassendes und erschwingliches Tisch-Rasterelektronenmikroskop (REM). Es wurde mit modernster Technologie entwickelt und liefert schnelle und hochwertige REM-Bilder sowie Elementanalysen. Sein robustes und modernes Design macht es perfekt für Forschung & Entwicklung, Bildungszwecke und industrielle Anwendungen.
Eucentric stage
Easily replacable electron source
High performance detectors
Sekundärelektronendetektor
Erfasst energiearme Sekundärelektronen für eine außergewöhnliche Oberflächentopografie. Ideal, um feine Oberflächendetails und Strukturen bei hoher Vergrößerung sichtbar zu machen.
Hauptmerkmale:
- Oberflächentopografie
- Hochauflösende Bildgebung
- Materialkontrast
Rückstreuelektronendetektor
Erfasst hochenergetische Rückstreuelektronen und liefert damit Kompositionskontrast. Schwerere Elemente erscheinen heller, was eine Materialdifferenzierung ermöglicht.
Hauptmerkmale:
- Kompositionskontrast
- Informationen unter der Oberfläche
- Niedrigvakuum-Fähigkeit
Energiedispersive Röntgenspektroskopie
Integrierter Röntgendetektor für die gleichzeitige Elementanalyse. Identifiziert und quantifiziert Elemente mit einer Auflösung von ≤132 eV.
Hauptmerkmale:
- Elementidentifizierung
- Quantitative Analyse
- Elementkartierung
Flexible Vakuumtechnologie
Wechseln Sie zwischen Hoch- und Niedrigvakuummodus, um jede Probenart ohne Kompromisse zu untersuchen. Im NANOS Tisch-REM standardmäßig enthalten.
Euzentrische Bühne standardmäßig enthalten
Die euzentrische Bühne des NANOS ist wirklich einzigartig. Sie ist beim NANOS standardmäßig enthalten. Die motorisierten XY-Bewegungen lassen sich ganz einfach per Mausklick steuern. Das Neigen der Probe im REM-Modus erfolgt durch manuelles Drehen der Bühne. Dank des euzentrischen Designs bleibt die Probe im Fokus, ohne dass zwischendurch Anpassungen der REM-Einstellungen erforderlich sind. Auf dem Monitor wird der genaue Neigungswinkel angezeigt. Proben können bis zu 55 Grad geneigt werden.
Gemischtmodus-BSE- & SE-Bilder
BSE- und SE-Bilder können gleichzeitig in einem einzigen zusammengesetzten Bild betrachtet werden. Die Bilder können entweder überlagert oder nebeneinander verglichen werden.
Richtungsabhängige Topografiebildgebung
Der 4-Quadranten-BSE-Detektor ermöglicht eine richtungsabhängige Schattensteuerung für eine verbesserte 3D-Visualisierung von Oberflächenstrukturen.
Eingebettete Elementanalyse
Der integrierte Silizium-Drift-Detektor (SDD) bietet leistungsstarke EDS-Funktionen für eine umfassende Materialcharakterisierung.
Umfassende Elementanalyse
Das integrierte EDS-System bietet quantitative und qualitative Elementanalysen von Bor (B) bis Americium (Am) mit branchenführender Energieauflösung.
Punktanalyse
Identifizieren Sie Elemente an bestimmten Stellen mit Einzelklick-Genauigkeit.
Linien-Scan
Verfolgen Sie die Elementverteilung entlang benutzerdefinierter Pfade.
Kartierung
Erstellen Sie farbkodierte Elementverteilungskarten.
Quantifizierung
Automatische standardlose Quantifizierung mit ZAF-Korrektur.
Flexible Beschleunigungsspannung
Sieben optimierte Spannungsvoreinstellungen von 1 bis 20 kV bieten die perfekte Balance zwischen Auflösung und Probenwechselwirkung.
Perfect balance for most imaging applications.
Leicht austauschbare Elektronenquelle
Der integrierte Silizium-Drift-Detektor (SDD) bietet leistungsstarke EDS-Funktionen für eine umfassende Materialcharakterisierung.
Schneller & einfacher Austausch
- Komplett in weniger als 15 Minuten
- Einfache Ausrichtung mit dem mitgelieferten Ausrichtungswerkzeug
- Das austauschbare Quellen-Design reduziert Ausfallzeiten erheblich.
- Der Austausch der Quelle ist sehr kostengünstig.
- Kein Servicetechniker erforderlich
Betriebsmodi der Filamente
Technische Spezifikationen
Detaillierte Spezifikationen, die die erweiterten Fähigkeiten des NANOS-Systems aufzeigen.
BILDGEBUNGSMODUS |
Optisch |
2- und 12-fach optisch mit bis zu 60-fachem digitalem Zoom |
REM |
Vergrößerungsbereich: 100 – 200.000× |
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Auflösung |
<8 nm |
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Aufnahmeresolution |
Bis zu 4096 × 4096 Pixel (4K) |
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BELEUCHTUNG |
Lichtoptisch |
Hellfeld |
Elektronenoptisch |
Optimierte thermionische Quelle (Wolfram) |
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Lebensdauer: 1000+ Betriebsstunden im ECO-Modus |
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Beschleunigungsspannungen |
Standard: 1, 2, 5, 7, 10, 15 und 20 kV |
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DETEKTOR |
Sekundärelektronendetektor (SED) |
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Rückstreuelektronendetektor (BSD) – 4-Quadranten |
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Energiedispersive Spektroskopie-Detektor (EDS) – integriert |
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LICHTOPTISCHE NAVIGATIONSKAMERA |
Farbe |
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BILDFORMATE |
JPEG, TIFF, PNG, BMP |
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BENUTZEROBERFLÄCHE |
Kommunikation, Bildgebung und Analyse erfolgen über einen einzelnen Monitor, gesteuert mit einer kabellosen Maus und Tastatur. |
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Fernsteuerung und Diagnose aktiviert |
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DATENSPEICHERUNG |
Netzwerk, USB, Workstation |
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PROBENBÜHNE |
Eucentric tilt stage (+15° up to -40° ) manual |
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Computer-controlled motorized X, Y: 25 x 25 mm |
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SAMPLE SIZE |
Bis zu 45 mm Durchmesser (max. +15° bis -15° Neigung) |
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Bis zu 19 mm Höhe (optional 40 mm) |
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EDS-SPEZIFIKATIONEN |
Detektortyp |
Silizium-Drift-Detektor (SDD), thermoelektrisch gekühlt |
Aktive Detektorfläche |
30 mm2 |
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Energieauflösung |
@ Mn Kα < 132 eV |
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Maximale Eingangs-Zählrate |
300,000 cps |
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Hardware-Integration |
Vollständig integrierter SDD, Pulsmesser und Scangenerator |
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SOFTWARE |
Auf einem Windows-PC installiert und über die Benutzeroberfläche gesteuert |
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EDS-Punktanalyse, Linienanalyse und Mapping |
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Exportfunktionen |
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SYSTEMSPEZIFIKATIONEN |
Stellfläche |
280 (B) × 470 (T) × 550 (H) mm |
Gewicht |
62 kg |
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Pumpen |
Pfeiffer-Turbomolekularpumpe und eine ölfreie Membran-Vorvakuumpumpe |
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Vakuummodi |
Hochvakuum-REM-Modus (Standard)
Niedrigvakuum-Modus (Standard): Vakuum von 40 Pascal zur Reduzierung von Aufladung |
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Motorisch gesteuerte Vakuumstufen über die Benutzeroberfläche |
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Workstation |
Vorkonfigurierter All-in-One-PC mit einem 27"-Monitor.
SEM-Bildgebungs- und EDS-Analysesoftware installiert. |
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UMGEBUNGSBEDINGUNGEN |
Temperatur |
15°C - 25°C (59°F - 77°F) |
Luftfeuchtigkeit |
20 - 80% RH |
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Stromversorgung |
System typischerweise im Bildgebungsmodus: 110 W (max. 140 W) |
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