NANOS — Das Tisch-Rasterelektronenmikroskop der nächsten Generation
Ein kompaktes, robustes Tisch-Rasterelektronenmikroskop (REM), das hochauflösende Bildgebung und Elementanalyse liefert – ohne die Notwendigkeit eines Reinraums, spezieller Infrastruktur oder fachkundiger Unterstützung.
< 8 nm
Auflösung
EDS
Integriert
200.000x
Vergrößerung
Hochauflösende Bildgebung & EDS
SED, 4-Quadranten-BSD und integriertes EDS in einem einzigen Tisch-REM.
Kein Reinraum erforderlich
Standard-Laborinstallation. Keine spezielle Infrastruktur oder Schwingungsisolierung erforderlich.
Vom Benutzer wartbar
Elektronenquelle kann vom Benutzer in wenigen Minuten ausgetauscht werden. Kein Servicebesuch erforderlich.
Kompaktes, robustes und vielseitiges Tisch-REM
Das NANOS Tisch-REM wurde mit modernster Technologie entwickelt, um schnelle, hochwertige Bildgebung und Elementanalyse zu liefern. Sein kompaktes, modernes Design macht es ideal für Anwendungen in Forschung und Entwicklung, Ausbildung sowie Industrie.
Das NANOS bietet sofortigen Zugang zu REM-Funktionen – und eignet sich damit hervorragend für Labore, die ihre Abhängigkeit von externen REM-Dienstleistungen reduzieren oder Routinearbeiten von größeren Standgeräten entlasten möchten. Mit seiner kleinen Stellfläche, ausgezeichneter Systemstabilität und ohne Bedarf an spezieller Infrastruktur fügt sich das NANOS Tisch-REM nahtlos in jede Laborumgebung ein.
Produktmerkmale
Umfassende Funktionen für anspruchsvolle analytische Arbeitsabläufe
Hochleistungs-SE- & BSE-Detektoren
Das NANOS Tisch-REM ist mit einem Sekundärelektronendetektor (SED) für hochauflösende Oberflächentopografie-Bildgebung und einem hochwertigen 4-Quadranten-Rückstreuelektronendetektor (BSD) für Materialkontrast ausgestattet. Das Quadrantendesign des BSD ermöglicht fortschrittliche Bildgebungsmodi, einschließlich topografischer Schattierung, und liefert wertvolle Einblicke in Oberflächenrauheit und Materialeigenschaften. Die Mixed-Mode-Bildgebung ermöglicht es, SE- und BSE-Signale gleichzeitig zu überlagern oder nebeneinander darzustellen, um eine umfassende Probenanalyse zu ermöglichen.
Mehr erfahrenIntegrierte EDS-Analyse
Das NANOS umfasst einen integrierten Silizium-Drift-Detektor (SDD) für energiedispersive Spektroskopie (EDS). Mit einer aktiven Fläche von 30 mm² und einer Energieauflösung von <132 eV bei Mn Kα unterstützt der Detektor Punktanalysen, Linienscans und vollständiges Element-Mapping — alles innerhalb derselben Benutzeroberfläche wie die REM-Bildgebung, ohne externe Hardware oder Software.
Mehr erfahrenNiedervakuummodus
Das NANOS arbeitet sowohl im Hoch- als auch im Niedervakuummodus. Im Niedervakuummodus (40 Pascal) werden Aufladungseffekte bei nichtleitenden Proben reduziert oder eliminiert, sodass häufig keine Sputterbeschichtung erforderlich ist. Der Wechsel zwischen den Modi erfordert nur einen einzigen Klick in der Softwareoberfläche.
Mehr erfahrenEuzentrische Kippbühne
Das NANOS ist standardmäßig mit einer euzentrischen Kippbühne ausgestattet, sodass Proben beim Kippen im Fokus bleiben, ohne dass Anpassungen an den REM-Einstellungen erforderlich sind. Die motorisierte XY-Bewegung wird per Software gesteuert (25 × 25 mm Verfahrweg), während Kippwinkel bis zu 55° manuell mit Echtzeit-Feedback auf dem Bildschirm eingestellt werden.
Mehr erfahrenVom Benutzer austauschbare Quelle
Der thermionische Wolframfaden liefert im ECO-Modus mehr als 1.000 Betriebsstunden. Wenn ein Austausch erforderlich ist, können Benutzer die Quelle selbst mit einem einfachen Ausrichtungswerkzeug wechseln — kein Servicebesuch, kein Spezialist erforderlich. Das minimiert Ausfallzeiten und reduziert die Betriebskosten im Vergleich zu Systemen, die externen Service erfordern.
Mehr erfahrenDiscover-Plattform
Die Semplor Discover-Plattform bietet eine intuitive Einzelbildschirm-Oberfläche für REM-Bildgebung und EDS-Analyse, die nur minimale Schulung erfordert. Benutzer mit unterschiedlichem Erfahrungsniveau im Bereich REM können schnell hochwertige Ergebnisse erzielen. Das System wird vorkonfiguriert auf einem 27"-All-in-One-PC mit vorinstallierter Software geliefert.
Überblick ansehenOptische Navigationskamera
Beim Einsetzen der Probe zeigt das NANOS ein optisches Vollfeld-Farbbild der Probenoberfläche an. Dies ermöglicht eine schnelle Identifikation interessanter Bereiche, bevor zur Elektronenbildgebung gewechselt wird — eine praktische Funktion für effiziente Arbeitsabläufe mit hohem Probendurchsatz.
1–20 kV Beschleunigungsspannung
Einstellbare Beschleunigungsspannungen von 1 bis 20 kV bieten Flexibilität für eine große Bandbreite an Probentypen und analytischen Anforderungen. Niedrigere Spannungen eignen sich für strahlempfindliche Proben; höhere Spannungen verbessern die EDS-Signalausbeute und die Effizienz des Mappings.
Keine beweglichen Teile im Vakuum
Das NANOS enthält keine beweglichen mechanischen Teile innerhalb der Vakuumkammer — ein Designmerkmal, das in anderen Tisch-REMs nicht zu finden ist. Dadurch wird das Risiko von Kontamination und mechanischem Versagen eliminiert, der Wartungsaufwand reduziert und eine dauerhaft konstante Bildgebungsleistung sichergestellt.
Mehr erfahrenAnalysesoftware
Das NANOS ist mit zwei optionalen Softwaremodulen erhältlich, die vollständig in die Discover-Oberfläche integriert sind.
Discover EDS
Erschließen Sie das volle analytische Potenzial des NANOS mit Semplors Discover-EDS-Software. Von Live-Element-Mapping bis hin zu präziser Peak-Identifikation und Quantifizierung optimiert Discover EDS jeden Schritt des analytischen Arbeitsablaufs.
- Live-Spektrumanzeige
- Sofortige Elementidentifikation und Quantifizierung
- Erweitertes Map-Blending, Linienscan-Analyse
- Berichterstellung mit einem Klick
Explore Apps — Partikel, Fasern & 3D
Die Semplor Explore App verwandelt standardmäßige REM-Bildgebung in fortschrittliche Materialcharakterisierung. Drei optionale Module sind verfügbar:
Explore Particles
Automatische Erkennung, Segmentierung und Messung von Partikeln, Poren und Körnern, einschließlich sich berührender Partikel. Die Ausgaben umfassen Größenverteilungen, Formdeskriptoren und exportierbare statistische Berichte.
Explore Fibers
Messung von Durchmesser, Orientierung und Krümmung für die Faseranalyse. Entwickelt für Textilien, Vliesstoffe, elektrogesponnene Materialien und faserbasierte Proben.
Explore 3D
3D-Rekonstruktion und quantitative Höhenkarten aus REM-Bildern unter Verwendung von Stereobild-Rekonstruktion, 4-Quadranten-BSD-Topografie oder Einzelbild-Rendering.
Anwendungen
Das NANOS Tisch-REM wird in einer Vielzahl von Forschungs-, Industrie- und Umweltanwendungen eingesetzt. Jede Anwendung kombiniert hochauflösende REM-Bildgebung mit Elementanalyse (EDS) und optionalen erweiterten Softwaremodulen.
Asbest- & Faseranalyse
Faseridentifikation und elementare Charakterisierung zur Einhaltung regulatorischer Vorgaben
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Materialcharakterisierung
Oberflächenmorphologie, Materialkontrast, Elementverteilung in Metallen, Keramiken, Polymeren und Verbundwerkstoffen
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Partikelanalyse
Automatisierte Erkennung, Größenbestimmung und Klassifizierung von Partikeln, Poren und Einschlüssen
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Fehleranalyse
Untersuchung von Oberflächendefekten, Bruchanalyse und Identifikation von Kontaminationen
Mehr lesen
Forensische Untersuchung
Materialidentifikation, Spurenelementanalyse und Charakterisierung von Faserspuren
Mehr lesen
Beschichtungs- & Oberflächenanalyse
Beschichtungsdicke, Haftung und elementare Zusammensetzung in Automobil-, Luftfahrt- und Industriebeschichtungen
Mehr lesenMit NANOS aufgenommene Bilder
Entdecken Sie beeindruckende hochauflösende Bilder, die mit dem NANOS Tisch-REM aufgenommen wurden.
Technische Spezifikationen
BILDGEBUNGSMODUS |
Optisch |
2- & 12-fach optisch mit bis zu 60-fachem Digitalzoom |
REM |
Vergrößerungsbereich: 100 - 200.000x |
|
Auflösung |
<8 nm |
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Aufnahmeauflösung |
Bis zu 4096 x 4096 Pixel (4K) |
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BELEUCHTUNG |
Lichtoptisch |
Hellfeld |
Elektronenoptisch |
Optimierte thermionische Quelle (Wolfram) |
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Lebensdauer: über 1000 Betriebsstunden im ECO-Modus |
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Beschleunigungsspannungen |
Standard: 1, 2, 5, 7, 10, 15 & 20 kV |
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DETEKTOR |
Sekundärelektronendetektor (SED) |
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Rückstreuelektronendetektor (BSD) – 4 Quadranten |
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Energiedispersiver Spektroskopiedetektor (EDS) – integriert |
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LICHTOPTISCHE NAVIGATIONSKAMERA |
Farbe |
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BILDFORMATE |
JPEG, TIFF, PNG, BMP |
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BENUTZEROBERFLÄCHE |
Kommunikation, Bildgebung und Analyse erfolgen über einen einzelnen Monitor mit Steuerung per kabelloser Maus & Tastatur |
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Fernsteuerung und Diagnose aktiviert |
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DATENSPEICHERUNG |
Netzwerk, USB, Workstation |
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PROBENTISCH |
Euzentrischer Kipptisch (+15° bis -40°) manuell |
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Computergesteuerte motorisierte X-, Y-Bewegung: 25 x 25 mm |
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PROBENGRÖSSE |
Bis zu 45 mm Durchmesser (max. +15° bis -15° Neigung) |
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Bis zu 19 mm Höhe (optional 40 mm) |
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EDS-SPEZIFIKATIONEN |
Detektortyp |
Silizium-Drift-Detektor (SDD), thermoelektrisch gekühlt |
Aktive Detektorfläche |
30 mm2 |
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Energieauflösung |
@ Mn Kα < 132 eV |
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Max. Eingangszählrate |
300.000 cps |
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Hardware-Integration |
Vollständig integrierter SDD, Pulsprozessor und Scangenerator |
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SOFTWARE |
Auf Windows-PC installiert und über die Benutzeroberfläche gesteuert |
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EDS-Punktanalyse, Linienanalyse und Mapping |
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Exportfunktionen |
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SYSTEMSPEZIFIKATIONEN |
Stellfläche |
280 (B) x 470 (T) x 550 (H) mm |
Gewicht |
62 kg |
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Pumpen |
Pfeiffer-Turbomolekularpumpe und eine ölfreie Membran-Vorvakuumpumpe |
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Vakuummodi |
Hochvakuum-REM-Modus (Standard)
Niedervakuummodus (Standard): Vakuum von 40 Pascal zur Reduzierung von Aufladung |
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Motorisch gesteuerte Vakuumniveaus über die Benutzeroberfläche |
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Workstation |
Vorkonfigurierter All-in-One-PC mit 27”-Monitor.
REM-Bildgebungs- und EDS-Analysesoftware installiert |
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UMGEBUNGSBEDINGUNGEN |
Temperatur |
15°C - 25°C (59°F - 77°F) |
Luftfeuchtigkeit |
20 - 80% RH |
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Stromversorgung |
System typischerweise im Bildgebungsmodus: 110 W (max. 140 W) |
SEMPLOR
Ausgewählte Ressourcen
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Häufig gestellte Fragen
Nein. Das NANOS arbeitet in einer Standard-Laborumgebung an einer normalen Steckdose (typisch 110 W, maximal 140 W). Weder ein Reinraum noch Schwingungsisolierung oder eine spezielle Klimatisierung sind erforderlich. Stellfläche: 280 × 470 × 550 mm, Gewicht: 62 kg.
Das NANOS bietet für die Mehrheit routinemäßiger Forschungs- und Industrieanwendungen vergleichbare Bildgebungs- und EDS-Fähigkeiten – bei deutlich geringeren Kosten und ohne Infrastrukturanforderungen. Bodenstehende Geräte können für Spezialanwendungen eine höhere maximale Auflösung bieten; für die routinemäßige Charakterisierung liefert das NANOS gleichwertige Ergebnisse bei geringeren Gesamtbetriebskosten.
Das NANOS verwendet einen thermionischen Wolframfaden. Im ECO-Modus bietet dieser mehr als 1.000 Betriebsstunden und kann vom Benutzer innerhalb weniger Minuten ohne Servicebesuch ausgetauscht werden. CeB₆-Quellen bieten eine längere Lebensdauer und höhere Helligkeit; Wolframquellen bieten geringere Betriebskosten und eine einfachere Wartung durch den Benutzer. Die richtige Wahl hängt von den Anwendungsanforderungen und dem Budget ab.
Nein. Die Discover-Plattform wurde für Benutzer mit unterschiedlichem Erfahrungsniveau entwickelt. Die meisten Benutzer erzielen bereits am ersten Betriebstag hochwertige Ergebnisse.
Für die meisten Proben ist nur eine minimale Vorbereitung erforderlich. Nichtleitende Proben können im Niedervakuummodus (40 Pascal) abgebildet werden, um Aufladungseffekte zu reduzieren, wodurch eine Sputterbeschichtung oft nicht mehr nötig ist. Für Hochvakuum-Bildgebung gilt die Standardvorbereitung.
Das NANOS unterstützt die elektronenmikroskopiebasierte Faseridentifikation und Elementanalyse, die gemäß EU-Richtlinie 2023/2668 erforderlich sind. Kontaktieren Sie uns, um die Compliance-Anforderungen für Ihre spezifische Anwendung zu besprechen.
Nein. Beide sind optionale Softwaremodule, die separat erhältlich sind. Das Basis-NANOS umfasst die REM-Bildgebungssoftware. Kontaktieren Sie uns für ein Angebot mit Ihrer bevorzugten Konfiguration.
Demo oder Angebot anfordern
Das NANOS ist über unser globales Distributoren-Netzwerk erhältlich. Kontaktieren Sie uns, um Ihre Anwendung zu besprechen, eine Live-Demonstration anzufordern oder ein Angebot für Ihre bevorzugte Konfiguration zu erhalten.