Home Products Nanos-es

NANOS — El microscopio electrónico de barrido de mesa de próxima generación

Un MEB de sobremesa compacto y robusto que ofrece imágenes de alta resolución y análisis elemental, sin necesidad de una sala limpia, infraestructura dedicada ni soporte especializado.

< 8 nm

Resolución

EDS

Integrado

200.000x

Aumento

Picture of Semplor NANOS scanning electron microscope (SEM) from side angle

Imagen de alta resolución y EDS

SED, BSD de 4 cuadrantes y EDS integrado en un único MEB de sobremesa.

No requiere sala limpia

Instalación estándar en laboratorio. No se necesita infraestructura dedicada ni aislamiento de vibraciones.

Mantenimiento por el usuario

La fuente de electrones puede ser reemplazada por el usuario en minutos. No se requiere visita de servicio.

Compacto, robusto y versátil MEB de sobremesa

El MEB de sobremesa NANOS está diseñado con la tecnología más reciente para ofrecer imágenes rápidas y de alta calidad, así como análisis elemental. Su diseño compacto y moderno lo hace ideal para aplicaciones de I+D, educativas e industriales.

El NANOS proporciona acceso inmediato a las capacidades de MEB, lo que lo hace especialmente adecuado para laboratorios que buscan reducir la dependencia de servicios externos de MEB o descargar trabajos rutinarios de instrumentos de mayor tamaño. Con una huella compacta, excelente estabilidad del sistema y sin necesidad de infraestructura dedicada, el MEB de sobremesa NANOS se integra perfectamente en cualquier entorno de laboratorio.

Picture of NANOS tabletop SEM and a PC with EDS map shown on it.

Características del producto

Capacidades integrales diseñadas para flujos de trabajo analíticos exigentes

Detectores SE y BSE de alto rendimiento

El MEB de sobremesa NANOS está equipado con un detector de electrones secundarios (SED) para imágenes de topografía superficial de alta resolución, y un detector de electrones retrodispersados (BSD) de 4 cuadrantes y alta calidad para contraste composicional. El diseño por cuadrantes del BSD permite modos avanzados de imagen, incluido el sombreado topográfico, proporcionando información valiosa sobre la rugosidad superficial y las propiedades del material. Las imágenes en modo mixto permiten superponer simultáneamente señales SE y BSE o mostrarlas lado a lado para un análisis integral de la muestra.

Más información

Análisis EDS integrado

El NANOS incluye un detector de deriva de silicio (SDD) integrado para espectroscopía de dispersión de energía (EDS). Con un área activa de 30 mm² y una resolución energética de <132 eV a Mn Kα, el detector admite análisis puntual, barridos lineales y mapeo elemental completo, todo dentro de la misma interfaz que la imagen MEB, sin hardware ni software externos.

Más información

Modo de bajo vacío

El NANOS funciona tanto en modo de alto vacío como de bajo vacío. En el modo de bajo vacío (40 Pascal), los efectos de carga en muestras no conductoras se reducen o eliminan, evitando a menudo la necesidad de recubrimiento por sputtering. El cambio entre modos requiere un solo clic en la interfaz del software.

Más información

Platina inclinable eucéntrica

El NANOS incluye de serie una platina inclinable eucéntrica, lo que garantiza que las muestras permanezcan enfocadas durante la inclinación sin necesidad de ajustar la configuración del MEB. El movimiento XY motorizado se controla por software (recorrido de 25 × 25 mm), mientras que los ángulos de inclinación de hasta 55° se ajustan manualmente con retroalimentación en pantalla en tiempo real.

Más información

Fuente reemplazable por el usuario

El filamento termoiónico de tungsteno proporciona más de 1.000 horas de funcionamiento en modo ECO. Cuando es necesario reemplazarlo, los usuarios pueden cambiar la fuente por sí mismos utilizando una sencilla herramienta de alineación, sin visita de servicio ni necesidad de un especialista. Esto minimiza el tiempo de inactividad y reduce el coste de propiedad en comparación con sistemas que requieren servicio externo.

Más información

Plataforma Discover

La plataforma Semplor Discover ofrece una interfaz intuitiva de pantalla única para imagen MEB y análisis EDS, que requiere una formación mínima. Los usuarios con distintos niveles de experiencia en MEB pueden obtener rápidamente resultados de alta calidad. El sistema se entrega preconfigurado en un PC All-in-One de 27" con todo el software preinstalado.

Ver resumen

Cámara óptica de navegación

Al insertar la muestra, el NANOS muestra una imagen óptica en color de campo completo de la superficie de la muestra. Esto permite identificar rápidamente las áreas de interés antes de pasar a la imagen electrónica, una característica práctica para flujos de trabajo eficientes y de alto rendimiento.

Voltaje de aceleración de 1–20 kV

Los voltajes de aceleración ajustables de 1 a 20 kV proporcionan flexibilidad para una amplia gama de tipos de muestra y requisitos analíticos. Los voltajes más bajos son adecuados para muestras sensibles al haz; los voltajes más altos mejoran el rendimiento de la señal EDS y la eficiencia del mapeo.

Sin partes móviles en el vacío

El NANOS no contiene partes mecánicas móviles dentro de la cámara de vacío, una característica de diseño que no se encuentra en otros MEB de sobremesa. Esto elimina el riesgo de contaminación y fallo mecánico, reduce los requisitos de mantenimiento y garantiza un rendimiento de imagen constante a lo largo del tiempo.

Más información

Software analítico

El NANOS está disponible con dos módulos de software opcionales, totalmente integrados en la interfaz Discover.

Software Discover EDS

Discover EDS

Desbloquee todo el potencial analítico del NANOS con el software Discover EDS de Semplor. Desde el mapeo elemental en vivo hasta la identificación precisa de picos y la cuantificación, Discover EDS optimiza cada paso del flujo de trabajo analítico.

  • Visualización de espectro en vivo
  • Identificación y cuantificación instantánea de elementos
  • Fusión avanzada de mapas, análisis de barrido lineal
  • Informes con un solo clic
Más información sobre Discover EDS
Software Explore Apps

Explore Apps — Partículas, Fibras y 3D

La aplicación Semplor Explore transforma la imagen MEB estándar en una caracterización avanzada de materiales. Hay tres módulos opcionales disponibles:

Explore Particles

Detección, segmentación y medición automáticas de partículas, poros y granos, incluidas partículas en contacto. Los resultados incluyen distribuciones de tamaño, descriptores de forma e informes estadísticos exportables.

Explore Fibers

Medición de diámetro, orientación y curvatura para el análisis de fibras. Diseñado para textiles, no tejidos, materiales electrohilados y muestras basadas en fibras.

Explore 3D

Reconstrucción 3D y mapas de altura cuantitativos a partir de imágenes MEB, utilizando reconstrucción por pares estereoscópicos, topografía BSD de 4 cuadrantes o renderizado de una sola imagen.

Más información sobre Explore Apps

Aplicaciones

El MEB de sobremesa NANOS se utiliza en una amplia gama de aplicaciones de investigación, industriales y medioambientales. Cada aplicación combina imágenes MEB de alta resolución con análisis elemental (EDS) y módulos de software avanzados opcionales.

Análisis de asbesto y fibras

Análisis de asbesto y fibras

Identificación de fibras y caracterización elemental para el cumplimiento normativo

Leer más
Caracterización de materiales

Caracterización de materiales

Morfología superficial, contraste composicional, distribución elemental en metales, cerámicas, polímeros y compuestos

Leer más
Análisis de partículas

Análisis de partículas

Detección, dimensionamiento y clasificación automatizados de partículas, poros e inclusiones

Leer más
Análisis de fallos

Análisis de fallos

Investigación de defectos superficiales, análisis de fracturas e identificación de contaminación

Leer más
Investigación forense

Investigación forense

Identificación de materiales, análisis de oligoelementos y caracterización de evidencias de fibras

Leer más
Análisis de recubrimientos y superficies

Análisis de recubrimientos y superficies

Espesor del recubrimiento, adhesión y composición elemental en recubrimientos automotrices, aeroespaciales e industriales

Leer más

Imágenes capturadas con NANOS

Explora impresionantes imágenes de alta resolución capturadas con el MEB de sobremesa NANOS.

Especificaciones técnicas

MODO DE IMAGEN
Óptico
Óptico de 2 y 12x con hasta 60x de zoom digital
MEB
Rango de aumento: 100 - 200.000x
Resolución
<8 nm
Resolución de captura
Hasta 4096 x 4096 píxeles (4K)
ILUMINACIÓN
Óptica de luz
Campo claro
Óptica electrónica
Fuente termoiónica optimizada (tungsteno)
Vida útil: más de 1000 horas de funcionamiento en modo ECO
Voltajes de aceleración
Predeterminado: 1, 2, 5, 7, 10, 15 y 20 kV
DETECTOR
Detector de electrones secundarios (SED)
Detector de electrones retrodispersados (BSD) – 4 cuadrantes
Detector de espectroscopía de dispersión de energía (EDS) – integrado
CÁMARA ÓPTICA DE NAVEGACIÓN
Color
FORMATOS DE IMAGEN
JPEG, TIFF, PNG, BMP
INTERFAZ DE USUARIO
La comunicación, la imagen y el análisis utilizan un único monitor con control mediante ratón y teclado inalámbricos
Control remoto y diagnóstico habilitados
ALMACENAMIENTO DE DATOS
Red, USB, estación de trabajo
PLATINA DE MUESTRA
Platina de inclinación eucéntrica (+15° hasta -40°) manual
X, Y motorizados controlados por ordenador: 25 x 25 mm
TAMAÑO DE LA MUESTRA
Hasta 45 mm de diámetro (máx. inclinación de +15° a -15°)
Hasta 19 mm de altura (opcional 40 mm)
ESPECIFICACIONES EDS
Tipo de detector
Detector de deriva de silicio (SDD), refrigerado termoeléctricamente
Área activa del detector
30 mm2
Resolución energética
@ Mn Kα < 132 eV
Tasa máxima de conteo de entrada
300,000 cps
Integración de hardware
SDD, procesador de pulsos y generador de barrido totalmente integrados
SOFTWARE
Instalado en un PC con Windows y controlado mediante interfaz de usuario
Análisis puntual EDS, análisis lineal y mapeo
Funciones de exportación
ESPECIFICACIONES DEL SISTEMA
Dimensiones
280 (an) x 470 (pr) x 550 (al) mm
Peso
62 kg
Bombas
Bomba turbomolecular Pfeiffer y una bomba de prevacío de membrana sin aceite
Modos de vacío
Modo MEB de alto vacío (estándar) Modo de bajo vacío (estándar): vacío de 40 Pascal para reducir la carga
Niveles de vacío controlados por motor mediante la interfaz de usuario
Estación de trabajo
PC All-in-One preconfigurado con monitor de 27”. Software de imagen MEB y análisis EDS instalado
CONDICIONES AMBIENTALES
Temperatura
15°C - 25°C (59°F - 77°F)
Humedad
20 - 80% HR
Potencia
Sistema típicamente en modo de imagen: 110 W (máx. 140 W)

SEMPLOR

Recursos destacados

Explora nuestra colección seleccionada de recursos técnicos, notas de aplicación y contenido educativo.

Scanning Electron Microscopy (SEM) is a powerful tool in forensic
Scanning electron microscopy reveals the complex fibre network and surface
Advanced automotive coatings require precise analysis for quality control, failure

Preguntas frecuentes

Solicitar una demostración o un presupuesto

El NANOS está disponible a través de nuestra red global de distribuidores. Contáctanos para comentar tu aplicación, solicitar una demostración en vivo o recibir un presupuesto para la configuración que prefieras.